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对于差分输入和差分输出的芯片,在调试时采用单端输入和单端输出对结果和性能会产生哪些影响? 最近一直在做射频电路方面的项目,常用到ADI公司的差分输入和差分输出芯片,但是目前在调试的过程中经常会遇到设备的限制,只能够采用单端输入信号和单端输出的调试测量,有时候调试了很长时间一直没有效果,就像是最近调试的AD8309,按照ADI芯片手册上面的测试板图来绘制的PCB板,但是现在调试了好长时间一直没有进展。希望ADI 的工程师们给予一定的解释说明该种调试方式的一些注意事项以及会产生哪些方面的影响。 我看到芯片手册上面给出的是放大倍数在100dB以上,但是目前只能发达到50dB左右,看过芯片手册以后感觉主要调试的也就是pin9管脚处的电阻阻值,目前不是太清楚问题出在什么地方!! 还有就是,放大器放大到-20dB左右的时候无论如何调高输入的信号功率,输出都没有变化了,这是什么原因造成的,我在调试的时候应该注意哪些事项!? |
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